ПАК на основе микроскопа Ntegra SOLARIS
 |
Программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа Ntegra SOLARIS предназначен для исследования морфологии поверхности, локальных механических, пьезоэлектрических, адгезионных и трибологических характеристик, зависимости магнитных свойств от внешнего магнитного поля, электрические свойств.
|
- Область сканирования: 100х100х10 мкм
- Размер образца: 40х40х15 мм
- Пространственное разрешение для измерительной головки по осям X, Y: < 2 нм
- Пространственное разрешение для измерительной головки по оси Z: 0,01 нм
- Скорость обработки силовых кривых: не менее 1000 кривых в секунду
- Спектральный диапазон системы ввода/сбора излучения сверху в диапазоне, не менее: от 405 до 1000 нм
- Линейный диапазон тока в измерительных методиках в диапазоне: от не более 0.05 до не менее 10 нА
- Нелинейный диапазон тока в измерительных методиках в диапазоне: от не более 0,01 до не менее 100 мкА
- Режимы: контактная и полуконтактная АСМ моды, функция «прыжковой» АСМ, сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), магнитно-силовая микроскопия, микроскопия токов растекания
- Среда измерений: воздух
- Микрозонды: кремниевые кантилеверы с радиусом закругления 10 нм (СЗМ), специальные зонды для СБОМ.