|
1. Установка ионной полировки образцов SEMPrep2 (Linda TechnoOrg, Венгрия) для высококачественной подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии.
- Возможность проведения ионного травления для получения поперечного сечения.
- Финальная ионная полировка и очистка для электронной микроскопии и EBSD-анализа. Шлюзовая система для быстрой смены образцов.
- Автоматизированные настройки параметров и операций.
- Возможность вращения и качания образцов.
- Контроль процесса в реальном времени посредством высокоразрешающей CMOS-камеры (50-400х) и LCD-монитора.
- Безмасляная вакуумная система на основе турбомолекулярного и диафрагменного насосов с комбинированным вакууметром Пирани/Пеннинга.
- Устройство позиционирования высоты образца для системы поперечной резки.
- Система поперечной резки под углом (на выбор: 30, 45 или 90 градусов).
- Держатель образца для очистки поверхности (под EBSD-анализ).
- Низкоэнергетическая ионная пушка (от 100 эВ до 2 кэВ) для "мягкой" полировки и очистки поверхности.
- Ионная пушка ультравысоких энергий (до 16кэВ) для травления твёрдых материалов и для ускоренного травления.
- Система охлаждения на основе элементов Пельтье.
2. Станок отрезной ПОЛИЛАБ P100A (КЕМИКА, Россия).
- Максимальный диаметр резки - 100мм/длина образца 200 мм.
- Размер отрезного столика 310х280 мм.
- Автоматический и ручной режима.
- Метод резки: движением столика.
- Подсветка рабочей зоны.
- Боковой порт для резки длинномерных образцов.
- Рециркуляционная система охлаждения, бак 60л.
- Диаметр отрезного диска 350мм.
3. Пресс автоматический ПОЛИЛАБ С50А (КЕМИКА, Россия).
- Диаметры пресс-форм: 25/30/40/50 мм.
- Давление: 55,5 Мпа (c пресс-формой 30 мм).
- Температура до 300°С.
4. Станок шлифовально-полировальный ПОЛИЛАБ П22Сб (КЕМИКА,
- Россия) с держателем образцов ПОЛИЛАБ ПГ-03.
- Количество дисков: 2.
- Скорость вращения: от 50 до 900 об/мин.
- Диаметр диска: 250 мм.
- Скорость вращение держателя: 0-200 об/мин.
- Давление на образец: 0-70 Н.
- Количество образцов: до 3 образцов по 30 мм.
|
