Оборудование

Сканирующий электронный микроскоп Thermo Fisher Scientific Quattro S

Сканирующий электронный Thermo Fisher Scientific Quattro S с электронной пушкой с полевой эмиссией, оснащен системой энергодисперсионного микроанализа на основе спектрометра EDAX "Octane Elect Plus EDS System".

Электронный спектрометр SPECS

Предназначен для изучения электронной структуры, химического состава и химических связей сверхтонких поверхностных слоев и тонких пленок, наноструктур, порошков с послойным анализом.

Spectro Analytical Instruments GmbH Spectroflame Modula S

Сканирующий ICP спектрометр Spectro Analytical Instruments GmbH "Spectroflame Modula S"

Синхронный ДТА/ТГА анализатор Perkin Elmer STA8000 с ИК-Фурье спектрометром Spectrum Two

Предназначен для анализа материалов по изменению массы (ТГА), температурных и тепловых эффектов при фазовых переходах, энтальпии (ДСК/ДТА) при нагревании в широком температурном диапазоне с идентификацией продуктов разложения образцов методом ИК-спек...

Рентгеновский дифрактометр Bruker AXS "D8 Advance"

Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance (Bruker AXS GmbH, Германия)

Электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S"

Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S" Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии.

Рентгеноэлектронный спектрометр ЭЗАН "ЭС-2401"

Предназначен для проведения качественного и количественного анализа сверхтонких поверхностных слоев вещества и тонких пленок, исследование электронной структуры и химической связи, послойный анализ распределения элементов.

ПАК на основе микроскопа NT-MDT Ntegra SOLARIS

Программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа NT-MDT Ntegra SOLARIS

Дифрактометр рентгеновский Rigaku Miniflex 600

Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов.

Спектрометр ядерного гамма-резонанса SM2201DR

Предназначен для исследования в традиционных схемах мессбауэровской гамма-оптики

Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ЭМС-3

Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ФТИ УрО РАН "ЭМС-3". Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах.

Комплексная система измерений и исследований в наномасштабе Micro Materials Ltd "Nanotest 600"

Комплексная система исследований в наномасштабе «Nanotest 600» (Micro Materials Ltd, Великобритания), мощная модульная платформа, созданная для тестирования, определения характеристики, исследования и разработки материалов в нано- и микромасштабах.

Дифрактометр Bruker ASX "D2 Phazer Theta"

Рамановский спектрометр Horiba "Jobin Yvon HR 800"

Ахроматический спектрограф Черни-Тернера с фокальным расстоянием F=800 мм и оптическим разрешением 0.3 см-1.

Установка универсальная для механических испытаний

Универсальная установка для механических испытаний (ООО «Метротест», Россия)

Шаровая планетарная мельница Fritsch Pulverisette 7 Classic Line

Планетарная шаровая мельница Fritsch Pulverisette 7 Classic Line предназначена для проведения механоактивационного воздействия (механическое измельчение, механическое сплавление, механохимический синтез) на твердые вещества в различной атмосфере и жи...

Комплекс пробоподготовки

Комплекс пробоподготовки для сканируюшей электронной микроскопии 1. Установка ионной полировки образцов SEMPrep2 (Linda TechnoOrg, Венгрия) для высококачественной подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии. 2. Станок отрезной ПОЛИЛ...

Микроскоп биологический флуоресцентный Olympus BX53

Микроскоп биологический флуоресцентный Olympus BX53 с цветной цифровой камерой высокого разрешения DP28

Спектроскопический эллипсометр SER 850

UV/VIS спектроскопический эллипсометр SER 850 (серии SENreserach 4.0) предназначен для измерения толщины и оптических характеристик массивных материалов, единичных и многослойных пленок, поверхностей раздела слоев, очень тонких и толстых пленок.