Новое уникальное оборудование поступило в УдмФИЦ УрО РАН для Центра коллективного пользования
Апрель 30, 2020
Команда Удмуртского федерального исследовательского центра УрО РАН выиграла грант Министерства науки и высшего образования РФ на покупку уникального оборудования на сумму 63 млн рублей для оснащения Центра коллективного пользования научным оборудованием (ЦКП) «Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий».
Грант позволит произвести модернизацию Центра коллективного пользования. Закупка нового оборудования обеспечит решение фундаментальных и прикладных задач, отвечающих современных мировым тенденциям, а также развитие общепринятых в научном сообществе практик сотрудничества и вовлечение исследователей в инфраструктурные проекты в России.
Грант позволит произвести модернизацию Центра коллективного пользования. Закупка нового оборудования обеспечит решение фундаментальных и прикладных задач, отвечающих современных мировым тенденциям, а также развитие общепринятых в научном сообществе практик сотрудничества и вовлечение исследователей в инфраструктурные проекты в России.
Как сообщил руководитель ЦКП, кандидат физико-математических наук Ришат Валеев, в марте получен и запущен в эксплуатацию программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа Ntegra SOLARIS (Россия).
В апреле получен сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Termo Fisher Scientific (FEI) Quattro S (разработка США, сборка – Чехия). Запуск в эксплуатацию откладывается в связи с ситуацией с распространением коронавируса. "Надеемся запустить в мае, когда разрешат приезд специалистов из Москвы", - отметил Ришат Валеев. Полученное оборудование имеет государственные метрологические сертификаты РФ и снабжено комплектами аттестованных методик исследований, что позволит как повысить уровень научных исследований в УдмФИЦ УрО РАН, так и интенсифицировать взаимодействие со сторонними заказчиками: научными организациями, отраслевыми институтами, вузами, промышленными предприятиями Удмуртии и других регионов России, а в дальнейшем – и другими странами.
«Ntegra SOLARIS позволяет проводить исследования с использованием различных методик сканирующей зондовой микроскопии: контактная и полуконтактная атомно-силовая микроскопия (АСМ), функция «прыжковой» АСМ (позволяет исследовать дисперсные объекты, например, порошки), сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) (оптическая микроскопия с превышением оптического предела в 2-3 раза), магнитно-силовая микроскопия (магнитные свойства поверхности, микроскопия токов растекания (электрические свойства поверхности).
«Ntegra SOLARIS позволяет проводить исследования с использованием различных методик сканирующей зондовой микроскопии: контактная и полуконтактная атомно-силовая микроскопия (АСМ), функция «прыжковой» АСМ (позволяет исследовать дисперсные объекты, например, порошки), сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) (оптическая микроскопия с превышением оптического предела в 2-3 раза), магнитно-силовая микроскопия (магнитные свойства поверхности, микроскопия токов растекания (электрические свойства поверхности).
СЭМ Termo Fisher Scientific (FEI) Quattro S предназначен для исследования и характеризации металлических, полупроводниковых, керамических, полимерных, биологических и других образцов, а также композитных материалов, локального определения элементного состава, распределения элементов по поверхности объекта на микро- и наноуровне. Используется электронная пушка с полевой эмиссией, что существенно улучшает разрешение и качество изображений, уменьшает время анализа. Оснащен системой энергодисперсионного микроанализа на основе спектрометра Octane Elite Plus EDS System (EDAX, Нидерланды)», - рассказывает руководитель ЦКП. Напомним, ЦКП УдмФИЦ УрО РАН является единственным центром коллективного пользования в республике. Сферы исследований центра:
- физика и химия наноматериалов;
- физика и химия поверхности и сверхтонких пленок;
- материаловедение, нанотехнологии;
- ионнолучевая и ионно-плазменная модификация материалов;
- физика магнитных явлений,
- механические испытания,
- технология и контроль качества производства.