Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47

Возможности методов зондовой микроскопии

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (корпорация NT-MDT, Россия) Исследование топографии, морфологии поверхности на атомарном уровне и объектов наноразмерного масштаба, применение для исследований и анализа на атомарном уровне комплексов адатомов, молекул, группировок атомов. Исследование физических, физико-химических свойств и химического состава локальных областей и объектов наномасштаба с использованием методов селективного взаимодействия зонда с поверхностью и методов селективных химических реакций.

Физические принципы

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) - прибор, дающий возможность исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня в режимах сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей силовой микроскопии (ССМ).

ССМ основана на зондировании поверхности образца специальным микрозондом. В процессе сканирования при помощи лазерной оптической системы регистрируется отклонение зонда, которое определяется различными физическими свойствами поверхности.

СТМ основана на регистрации туннельного тока, возникающего между проводящей иглой и образцом.

Возможности метода

РЭМ Изображение острия иглы СТМССМ позволяет изучать многие характеристики поверхности, такие как топография, трение, упругость, адгезия, поверхностная проводимость, распределение электростатических и магнитных сил и др. Использование резонансных методик позволяет исследовать мягкие и гелеобразные объекты.

СТМ применяется для исследования проводников и тонких пленок (или небольших объектов) нанесенных на поверхность проводника. Дает возможность получения изобра-жения рельефа, в режиме литографии позволяет проводить локальное воздействие на поверхность импульсами напряжений (изменять рельеф, физические и химические свойства поверхности), измерять вольтамперные характеристики в заданных точках.

  • Анализ распределения функциональных групп на поверхности органических мате-риалов
  • Исследование особенностей топографии и распределения сил трения на сколах материалов
  • Исследование процессов роста плазмоосажденных полимерных защитных пленок на поверхности металлов и сплавов
  • Определение размеров высокодисперсных частиц и исследование микроструктуры их поверхности
  • Исследование формы, размеров и распределения фазовых включений

Технические характеристики

  • Разрешение
  • Область сканирования 10*10*2 мкм
  • Минимальный шаг сканирования 0,001 нм
  • Температура до 150 °С
  • Размер образца 40*40*10 мм
  • Режимы контактная и полуконтактная моды
  • Среда измерений воздух, в контролируемые газовые и жидкие среды
  • Микрозонды кремниевые кантилеверы с радиусом закругления 10нм (ССМ) и платиновые иглы с радиусом кривизны иглы 3-5 нм (СТМ)

Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300

Возможности

Прибор позволяет получать изображения поверхности с атомарным разрешением при комнатной температуре образца и используется для изучения любых поверхностных про-цессов в режиме in vivo.

Данный прибор прошел апробацию в течение 5-ти лет в лаборатории поверхностных явлений ИОФ РАН. Основными объектами исследований являлись реакция хлорирования металлов и полупроводников, углеродные нанотрубки и радиационные дефекты на поверхности графита.

Области применения:

  • химические и фотохимические реакции,
  • катализ
  • напыление
  • полупроводниковые технологии
  • адсорбция
  • модификация поверхности ионами, электронами и другими частицами
  • исследование наноматериалов
  • нанотехнология
  • атомные манипуляции
Реконструированная поверхность кремния Si(111)(7x7) с атомарным разрешением
Островки хлорида меди

Технические характеристики (комнатная температура)

  • Максимальная область сканирования (X,Y,Z) с использованием высоковольтных усилителей 1.8x1.6x1.8 мкм3
    (ВВУ)без использования ВВУ 140х130х140 нм3
  • Минимальный шаг при сканированиис использованием ВВУ (X,Y)-0,3 A; (Z)-0.02 A
    без использования ВВУ (X,Y)-0.02 A, (Z)-0.0014 A
  • Область позиционирования (X,Z) 5x11 мм2
  • Разрешение Атомарное разрешение на металлах
  • Механизм подвода и позиционирования - пьезоинерционный
  • Диапазон туннельного тока 0,01-12 нА
  • Диапазон туннельного напряжения ±10 В с 16-ти-битным разрешением
  • Стационарный дрейф 0.1 нм/мин
  • Резонансная частота сканера 3 кГц
  • Тип обратной связи Цифровая
  • Размер образца (X,Y,Z) 10x6x2 мм3
  • Резонансная частота пружинного подвеса 1.2 Гц
  • Размер вакуумного модуля 200x200x630 мм3
  • Размер (тип) фланца вакуумного модуля 200 мм (DN160-CF)
  • Базовое давление в вакуумной камере 1x10-10 Торр
  • Совместимость с другими методами воздействия и анализа поверхности при сканировании:
    ионы, лазер, электроны, молекулы, оптическая спектроскопия.
 

1789963c93f14377406204a5c197f3cc_xl.jpg МЕРЫ ПРОФИЛАКТИКИ КОРОНАВИРУСНОЙ ИНФЕКЦИИ 2019-NCOV

Приказ Минобрнауки РФ от 29.12.2020 г. № 146 "О мерах по предупреждению распространения короновирусной инфекции".

В Удмуртии для граждан, вернувшихся из очагов коронавирусной инфекции, заработали телефоны горячей линии Минздрава УР
Специально для граждан, вернувшихся из очагов коронавирусной инфекции, заработали телефоны горячей линии Минздрава УР по профилактике инфекции с шифром 2019-nCoV.
По горячим телефонам 8-800-100-24-47 (круглосуточно) и 8 (3412) 57-01-89 (с 09.00 до 16.00) прибывшие могут передать сведения о месте и датах пребывания и возвращения, свою контактную информацию.
Также любой житель республики может позвонить в Роспотребнадзор по номеру 8-800-555-49-43 (звонок бесплатный) - круглосуточно или 8 (3412) 22-23-07 доб. 302 - с 09.00 до 16.00 для того, чтобы задать волнующие вопросы о ситуации в мире, о симптомах и профилактике заболевания, об ограничительных мерах. Вопросы принимаются и по электронной почте: Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script