Центр коллективного пользования
«Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий» УдмФИЦ УрО РАН


Общая информация:

Центр коллективного пользования «Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий" УдмФИЦ УрО РАН. 
Реестровый номер 3298.
Адрес в интернете: http://udman.ru.

Базовая организация: ФБГУН Федеральный исследовательский центр УрО РАН.
Почтовый адрес: 426067 г. Ижевск, ул. им Татьяны Барамзиной, 34.
тел.: (3412) 508200, 430163, факс: (3412) 507959.
e-mail: Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script .

Директор базовой организации (УдмФИЦ УрО РАН): Альес Михаил Юрьевич, д.ф.-м.н., профессор.
Руководитель ЦКП: Валеев Ришат Галеевич, к.ф.-м.н.
Ученый секретарь ЦКП, контактное лицо: Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, к.ф.-м.н.

Контакты:
(3412) 508200, Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script - руководитель базовой организации,
(3412) 430163,  Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script  - руководитель ЦКП,
(3412) 430163, Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script , Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script - ученый секретарь ЦКП.

ЦКП Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий» УдмФИЦ УрО РАН организован в 2003 году на базе научных подразделений ФТИ УрО РАН, реорганизован в 2018 году. ЦКП осуществляет свою деятельность в соответствии с Уставом УдмФИЦ УрО РАН и Положением о центре коллективного пользования.

  • Основные сведения о деятельности ЦКП в 2017 году, скачать.

 Стратегические документы Российской Федерации, на основании которых функционирует ЦКП:

  • Федеральный закон №127-ФЗ от 23.08.1996 "О науке и государственной научно-технической политике".
  • Федеральный закон №270-ФЗ от 13.06.2015 "О внесении изменений в Федеральный закон "О науке и государственной научно-технической политике"...".
  • Постановление Правительства Российской Федерации №429 от 17.05.2016 г. "О требованиях к центрам коллективного пользования научным оборудованием и уникальным научным установкам, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, и правилах их функционирования».
  • Приказ Минобрнауки России от 18.07.2016 N 871 "Об утверждении Типовых требований к содержанию и функционированию официальных сайтов центров коллективного пользования научным оборудованием и (или) уникальных научных установок, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, в информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" и (или) их страниц на официальных сайтах научных организаций и (или) образовательных организаций, которыми созданы и (или) в которых функционируют такие центры и уникальные установки".

 Нормативные документы:

Задачи ЦКП:

  • Выполнение фундаментальных и прикладных исследований УдмФИЦ УрО РАН, научных проектов различных программ, грантов, контрактов, хозяйственных договоров на основе эффективного использования научного оборудования и экспериментальных методик.
  • Выполнения работ по заявкам научных организаций, подведомственных ФАНО, отраслевых институтов, высших учебных заведений, промышленных предприятий и организаций.
  • Разработка и реализация новых экспериментальных методик на основе имеющегося в ЦКП оборудования.
  • Оказание научно-методической и консультативной помощи сторонним организациям.
  • Научно-образовательная деятельность, подготовка бакалавров и магистрантов в рамках образовательных программ высших учебных заведений, подготовку аспирантов в рамках образовательных программ аспирантуры, повышение квалификации научных работников, в том числе в рамках деятельности научно-образовательных центров.

ЦКП выполняет исследования в следующих областях:

  • физика и химия наноматериалов;
  • физика и химия поверхности и сверхтонких пленок;
  • материаловедение, нанотехнологии;
  • ионнолучевая и ионно-плазменная модификация материалов;
  • физика магнитных явлений,
  • механические испытания,
  • технология и контроль качества производства,

На базе ЦКП осуществляется подготовка бакалавров, магистрантов и аспирантов в рамках образовательных программ, научно-образовательных центров, подготовка и повышение квалификации научных кадров и инженерно-технических работников.

 

Пользователи (сторонние организации) ЦКП в 2017 году:

  •  ФГБУН Удмуртский федеральный исследовательский центр УрО РАН (ФТИ УрО РАН и ИМ УрО РАН - с 10.01.2018 - подразделения базовой организации).
  • •ФГБУ «Российский фонд фундаментальных исследований»
  •  Российский научный фонд
  •  ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. С.Н. Курнакова РАН.
  •  ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН.
  •  ФГБУН Институт электрофизики УрО РАН.
  •  ФГБОУ ВО «Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова».
  •  ФГБОУ ВО «Воронежский государственный университет».
  •  ФГАОУ ВО «Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского» (НИФТИ)
  •  ФГБОУ ВО «Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова»
  •  ФГБОУ ВО «Удмуртский государственный университет».
  •  ФГБОУ ВПО «Ижевский государственный технический университет им. М.Т. Калашникова».
  •  ОАО «Ижевский электромеханический завод «Купол».
  •  ОАО «Элеконд» (г. Сарапул).
  •  АО «Ижевский радиозавод».
  •  ОАО «Воткинский завод» (г. Воткинск).
  •  ОАО «Сарапульский электрогенераторный завод».

 

Перечень оборудования ЦКП
Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий» УдмФИЦ УрО РАН

 № Наименование единицы оборудования
Марка
Фирма-производитель  Назначение и характеристики оборудования 
1  Установка для измерения вязкости расплавов (вискозиметр) -  ФТИ УрО РАН  Исследование кинематической вязкости металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний. Т=500-1750 С. Атмосфера : гелий, вакуум, относительная погрешность 2-4%.
2  Газоанализатор  Метавак  НПО ЭКСАН  Анализ содержания кислорода, азота и водорода в металлах методом восстановительного плавления. Диапазоны определения:
Азот - от 0,0002 до 10 %, Водород - 0,0002 до 0,2 %, Кислород - 0,0004 до 1,0 %.
3  Газоанализатор углерода Метавак С Метавак С  НПО ЭКСАН  Анализ содержания углерода методом сжигания в атмосфере водорода и кислорода. Диапазоны измерений массовой доли: углерода от 0,005 до 99,5 % масс. Погрешность - от 2 до 10 %.
4  Установка вакуумная плавильная
«Кристаллизатор-111»  -  Рабочая температура - до 2000ºС. Полезный объем тигля - 1,2 литра.
Максимальное разряжение - 10-4 мм.рт.ст.
5  Шаровая планетарная мельница ПКГ «Гранат»  АГО-2С  Высокоэнергетическая шаровая планетарная мельница. Энергонапряженность: до 200 Вт/г порошкового образца Ускорение шаров до 80 g.Материал шаров и барабанов : ШХ15 и 40Х13.
6  Металлографический микроскоп
 Neophot-21  Carl Zeiss  Качественный и количественный анализ микроструктуры материалов в отраженном свете
7  Металлографический микроскоп
 МЕТАМ-ЛВ  ООО «ЛОМО»   Качественный и количественный анализ микроструктуры материалов в отраженном свете
8  Рентгеновский дифрактометр
 D8-Advance  Bruker AXS GmbH  Гониометр θ-θ;параллельно-лучевая рентгеновская оптика, Si(Li) детектор Sol-XE, высокоскоростной детектор Vantec-1, НТ и ВТ камеры Anton Paar (He, вакуум, воздух).
9  Микроскоп электронный сканирующий с системой рентгеновского микроанализа  SEM-515 +Genesis 2000 XM  Philips  Увеличение до х160000. Разрешающая способность - 5 нм. Предел обнаружения 0,2 масс.%. Точность определения 5 отн.% . Пространственное разрешение при микроанализе 1х1х5 мкм.
10  Высокотемпературный ифференциальный сканирующий калориметр
 DSC 404 C Pegasus  Netzsch  Высокоточные калориметрические измерения. Определение температур и теплот фазовых превращений и химических реакций, теплоемкости веществ при нагреве и охлаждении в широком интервале температур Т комн.÷1650 С.
11  Автоматизированная система дифференциально-термического анализа
 ВТА-983  ИМФ АН УССР  Исследование фазовых превращений в материалах в интервале температур 50-1800 С, тигли ВеО, корунд, ZrO2. Объем образца 1 см3. Среда: Не, воздух
12  Спектрофотометр УФ/Вид
 Lambda 650  Perkin Elmer  Определение содержания элементов методом молекулярной абсорбционной спектроскопии. Оптический диапазон 190-900 нм.
13  ИК Фурье-спектрометр
 ФСМ-1202  ООО «Мониторинг»  Исследования ИК-спектров, изучение колебательных спектров, идентификация химических соединений, фазовых превращений, кинетики химических реакций. Газ, жидкости, твердые тела.
14  Дифференциальный сканирующий калориметр DSC-Diamond  DSC-Diamond  Perkin Elmer  Высокоточные калориметрические измерения. Т=170 ÷ 730°С.Скорость сканирования: 0,01° /мин - 500° /мин.
15  Дифрактометр рентгеновский
 Дрон-6  НПО «Буревестник»  Качественный и количественный структурно-фазовый анализ кристаллических и аморфных материалов, определение макро и микронапряжений, изучение ближнего порядка, определения ориентации монокристаллов.
16  Рентгеноэлектронный спектрометр
 ЭС-2401  ЭЗАН СССР  Качественный и количественный РФЭС анализ состава, химической связи, электронной структуры сверхтонких (3-5 нм) поверхностных слоев вещества и тонких пленок. Послойный анализ.
17  Оже - электронный спектрометр (Оже-микрозонд)
 JAMP-10s  JEOL  Анализатор - цилиндрическое зеркало. Диаметр первичного пучка от 25нм до 100мкм, Увеличение 45х - 20000х, Анализируемая площадь d= 50нм-100мкм. Диапазон Е кин 0 - 3000 эВ. Разрешение энергоанализатора 0,35 - 1,2%
Режимы измерения N(E) , dN/dE. Послойный Оже-анализ.
18  Анализатор cо сканирующим туннельным микроскопом  LAS-2000 + GPI 300-05  RIBER + ИОФ РАН.  Аналитический комплекс с системой сверхвысоковакуумного термического напыления пленок, Оже-анализатором, сверхвысоковакуумным туннельным микроскопом.
19  Сканирующий зондовый микроскоп
 Solwer - Рro  NТ - MDT  Исследование топографии поверхности на наноуровне. Разрешение~ 10нм. Область сканирования 10*10*2 мкм. Минимальный шаг сканирования 0,001 нм. Т= до 150 °С, образцы 40*40*10 мм. Контактная и полуконтактная моды, среда :воздух, контролируемые газовые и жидкие среды.
20  ИК-Спектрометр  Excalibur HE 3100  Varian BV  Исследования ИК-спектров, изучение колебательных спектров, идентификация химических соединений, фазовых превращений, кинетики химических реакций. Газ, жидкости, твердые тела.
21 Электронный спектрометр  SPECS
 SPECS GmbH  Сверхвысоковакуумная система. Полусферический анализатор PHOIBOS-150,
рентгеновский источник XR-50 (Mg/Al), 9-канальный детектор МКD-9 «Channeltron-Array (9)», скорость счета - 12*106 имп/с. ПШПВ Ag3d5/2 = 0.82 eV, локальность анализа по поверхности d = 5 мм - 100 мкм, глубина анализа 3-5 нм. Послойный анализ.
22  Установка для испытаний на растяжение/сжатие  SATEC, 300 DX  INSTRON  Растяжение/сжатие образцов материалов в ручном и автоматическом (по программе) режиме; максимальное усилие - до 300 кН (30 тс) с погрешностью 0,5%, погрешность измерения перемещений траверсы - 0,5%.
23   Виброиспытательная установка
TIRAvib TV 50101-80
 TIRA GmbH  Исследования поведения различных материалов и конструкций на вибрационное воздействие в диапазоне частот 0-7000 Гц с ускорением до 40 g и массой испытуемого объекта до 20 кг.
24  Дифрактометр рентгеновский
Miniflex 600
 Rigaku  Исследование структурно-фазовых состояний поликристаллических и аморфных материалов. 1-координатный полупроводниковый позиционно-чувствительный детектор, малое время получения дифрактограмм с повышенным соотношением сигнал/шум.
25  Спектрометр ядерного гамма-резонанса SM2201DR
   Предназначен для исследования тонкой структуры материалов методом ядерного гамма-резонанса.
26  Комплект рентгеноэлектронного спектрометра  ЭМС-3  ФТИ УрО РАН  Предназначен для исследования электронной структуры, межатомных химических связей, состава сверхтонких поверхностных слоев высокотемпературных металлических расплавов методом РФЭС

 

 Виды проводимых исследований:

 № Вид исследования
1  Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев, исследование электронной структуры и межатомной химической связи, послойный анализ.
2  Оже-электронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев и границ раздела, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне.
3  Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ.
4  Анализ параметров локальной атомной структуры сверхтонких (1-3 нм) поверхностных слоев вещества методом EELFS (метод протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов).
5  Сканирующая зондовая микроскопия: исследование топографии, морфологии поверхности на наноразмерном уровне, исследование физико-химических свойств локальных областей и объектов наномасштаба.
6  Сверхвысоковакуумная сканирующая туннельная микроскопия: исследование топографии и физических свойств поверхности на атомарном уровне.
7  Растровая электронная микроскопия и микроанализ: исследование топографии, микроструктуры, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне.
8  Дифференциальная сканирующая калориметрия: определение температур и теплот фазовых превращений и химических реакций, теплоемкости веществ при нагреве и охлаждении в широком интервале температур. Исследование кинетики процессов.
9  Исследование магнитных свойств материалов
10  ИК-спектроскопия: анализ атомного строения, внутримолекулярных и межмолекулярных взаимодействий в органических, неорганических, твердых, порошкообразных и жидких материалах.
11  УФ/Вид-спектроскопия: исследование содержания веществ в растворах, идентификация и определение структуры химических соединений.
12  Вискозиметрия: исследование кинематической вязкости металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний.0
13  Анализ содержания кислорода, азота и водорода в металлах методом восстановительного плавления, анализ содержания углерода методом сжигания в атмосфере водорода и кислорода.
14  Металлографические исследования: количественный и качественный анализ микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете.
15  Исследование механических свойств материалов: твердость, микротвердость, механические испытания на растяжение-сжатие, в т. числе в условиях сложного напряженно-деформированного состояния
16  Исследование вибрационной устойчивости, малоцикловой усталости, динамических и упругих свойств.

 

Программа развития ЦКП при УдмФИЦ УрО РАН на перспективу (2017 - 2020):

  • Перечень научного оборудования и комплектующих, необходимых для ремонта, модернизации и развития приборной базы ЦКП:
 1
Измерительная ячейка HOLDER ASSY-PEARL SAMPLE  Измерительная ячейка для высокоточных калориметрических исследований.
 2 Измерительная ячейка S-типа для DSC 404 C Pegasus  Предназначена для ДСК-исследований в интервале температур до 1600 С в различных средах. Дооснащение DSC 404 C Pegasus.
 3 Испытательная машина Zwick Z100TEW (Zwick GmbH&Co, Германия)  Универсальная электромеханическая испытательная машина для исследования механических характеристик материалов при испытаниях на растяжение, сжатие, изгиб в интервале температур до 1000 С. Fмах=100 кН.
 4 Мельница шаровая планетарная FRITSCH Pulverisette 7  Емкость сосудов 45 мл, Ускорение шаров 25 g
 5 Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV  285 мм гониометр; двойной Ge- монохроматор, сцинтилляционный и полупроводниковый детектор; вращающийся тонкий капилляр, высокотемпературная приставка до 1500 С, 2 кВт рентгеновские трубки с Cu и Co анодом.
 6 Вибрационный магнитометр 7404 VSM  Вибрационный магнитометр фирмы Lake Shore Cryotronics (USA) c низкотемпературной и высокотемпературной приставкой модели 7404 VSM
 7 Мессбауэровский спектрометр ЯГРС-4М модернизированный Спектрометр Mессбaуэра с низко- и высокотемпературной камерой
 8 Многоканальный волнодисперсионный спектрометр со сканирующим каналом MXF-2400 ООО "Аналит Продактс" Высокоточный элементный экспресс-анализ.
 9 Система "SEM/SAM 100nm/250nm / R4 Package" с виброзащитой (SPECS GmbH)  Система сканирующей оже- электронной спектроскопии, растровой электронной микроскопии высокого разрешения, для дооснащения электронного спектрометра SPECS.
 10 Многоканальный детектор электронов Channeltron-Array 9 MCD (SPECS GmbH)  9-канальный детектор электронов (9MCD) для электронного спектрометра SPECS с анализатором Phoibos-150. Для замены отработавшего ресурс детектора.
 11 Сканирующий нанотвердомер NTEGRA Prima (Россия) Система зондовой силовой микроскопии высокого разрешения и наноиндентирования.
 12 Раман-спектрометр inVia Basis. Renishaw, Великобритания  Спектрометр комбинационного рассеяния
 13 Установка импульсной лазерной обработки материалов типа "L Designer F1"  
 14 Вторично-ионный масс-спектрометр SIMS-System для мультисистемы анализа поверхности SPECS Замена физически изношенного масс-спектрометра МС-7201 М (1987 г.)
 15 Безмасляные системы откачки низкого, высокого и сверхвысокого вакуума, арматура к сверхвысоковакуумным системам оборудования ЦКП Для замены отработавших ресурс и устаревших элементов вакуумных систем.
  • Подготовка молодых специалистов для работы в рамках ЦКП из числа студентов вузов, аспирантов и молодых ученых. Выполнение исследований и оказание услуг в рамках Научно-образовательных центров.
  • Выполнение совместных долгосрочных проектов с научными организациями ФАНО, высшими учебными заведениями, ведущими промышленными предприятиями региона.
  • Развитие методик синтеза и анализа структуры и свойств материалов на наноуровне.